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AEC-Q100车规级认证项目及规范 转载

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发表于 2023-3-15 17:16:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

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AEC-Q100车规级认证项目及规范原文链接:https://zhuanlan.zhihu.com/p/560580816

falab的分享









AEC-Q认证的目的是针对车载应用,汽车零部件,汽车车载电子实施标准规范,建立车载电子部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准,提高车载电子的稳定性和标准化。
AEC-Q用于验证元器件能否达到AEC的要求,是非强制性的认证。
AEC-Q的要求非常严格,只有通过相对应的标准规定的全部测试项目,供应商才能声称该产品通过了相应的AEC-Q认证;符合这些规格的组件适用于恶劣的汽车环境,无需额外的组件级鉴定测试。
AEC-Q目前已成为公认的车规元器件的通用测试标准。
主机厂和一级供应商:使用通过AEC-Q认证的电子元器件风险小,优选;
电子元器件供应商:通过AEC-Q认证,提高产品竞争力及溢价率。
对于芯片的测试标准是Aec-q100,认证规范主要有:
AEC-Q100 Rev-G base:集成电路的应力测试标准(不包含测试方法)
AEC-Q100-001邦线切应力测试
AEC-Q100-002人体模式静电放电测试
AEC-Q100-003机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
AEC-Q100-007故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008早期寿命失效率(ELFR)
AEC-Q100-009电分配的评估
AEC-Q100-010锡球剪切测试
AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
下图是Aec-q100的测试流程图
AEC-Q100详细规定了一系列的测试,同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组:
测试群组A(环境压力加速测试,Accelerated Environment Stress)
测试群组B(使用寿命模拟测试,Accelerated Lifetime Simulation)
测试群组C(封装组装整合测试,Package Assembly Integrity)
测试群组D(芯片晶圆可靠度测试,Die Fabrication Reliability)
测试群组E(电气特性确认测试,Electrical Verification)
测试群组F(瑕疵筛选监控测试,Defect Screening)
测试群组G(封装凹陷整合测试,Cavity Package Integrity)







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 楼主| 发表于 2023-3-15 17:18:05 | 显示全部楼层
ASIL B的系统一定要用ASIL B的MCU吗?原文链接:https://zhuanlan.zhihu.com/p/387111951

rondo wang

ISO 26262,SOTIF,IEC61508







3 人赞同了该文章
从事功能安全的新手经常问一个问题:ASIL B的系统一定要用ASIL B的MCU吗?
目前市面上对这个问题的回答没有标准答案,有的人回答一定要用,有的人问答不一定要用,回答一定要用的人也给不出令人信服的理由,回答不一定要用的人也没有强大的证据作为背书。
本篇从ISO 26262的标准出发来回答这个问题,这样回答的才更令人信服,有不同意见的有志之士可以随时沟通交流。
首先来看一下: ISO 26262-8第13章的内容: 硬件要素的评估。
特别注意:
评估对象为: 不是按照ISO 26262开发的硬件要素且和安全相关的要素。
硬件要素的分类: I类, II类, III类
I类硬件要素: 如电阻,电容,三极管,二极管,石英,谐振器等这种基本的被动硬件元器件被划分为I类硬件要素。很明显,没有人见过按照ISO 262622来开发一个电阻。
II类硬件要素: 如压力传感器,温度传感器,独立的ADC。这种硬件要素比被动元器件复杂一个级别,但是其内部没有与功能安全概念有关的安全机制。
III类硬件要素: 如微处理器、微控制器(MCU)、数字信号处理器,ASIC等, III类硬件要素比II类硬件要素更为复杂,并且其内部有和安全概念相关的安全机制来控制和检测内部失效。
现在评估对象已经确定,下面叙述一下评估要求和方法。
1. 对于I类硬件要素而言,由于其功能简单,无需自行评估,只要集成I类硬件要素按照ISO 26262开发就可以了。
2. 对于II类硬件要素而言,需要按照下述方法评估。
制订一个评估计划,选择合适的分析评估和测试评估方法,然后把评估论据写到评估报告了,如果评估结果不通过就悲剧了,因为这个评估所耗费的资源不亚于搞一轮EMC测试了,评估通过是大家都希望看到的结果。
3. 对于III类硬件要素而言,ISO 26262明确写了: III类硬件要素应按照ISO 26262开发。也就是说对第三类硬件要素评估不是首选方法,对于这类要素的下一个版本的开发应按照ISO 26262。
如果执着,很坚持,固执、执意、坚决、执拗,固执地要对III类硬件要素作评估也不是不可以,评估过程除了按照II类硬件要素的评估过程来一遍之外,还需要额外的措施以证明由于其系统故障而违反安全目标或违反安全需求的风险足够低,比如安全相关的安全相关功能的可验证性等措施。
现在。。。。。。。
我们把目光聚焦到MCU上,MCU属于III类硬件要素,ISO 26262写明了,你MCU要按照我ISO 26262来开发(这是首选方法),如果不按照我开发你的下一代也要按照我开发,并且我ISO26262提供了一个评估那些你们没按照ISO 26262开发的MCU的方法(迫不得已的方法)
现在。。。。。。。。。。。
我们从新回到问题: ASIL B的系统一定要用ASIL B的MCU吗?
答案是。。。。。。。。。。。。。。。
ASIL B的系统首选用ASIL B的MCU,如果要用一个QM的也可以,要对其进行评估,并且评估通过(相信几乎没有公司这么做)。
写在前面的话: ASIL B的系统可以用2个ASIL A, 一个ASIL C的,一个ASIL D的MCU这种话题不讨论。







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